

SEC X-eye 5100F RTG sistem za inspekciju
-
Kontaktirajte nas
- +385 99 36 86 973
- amra.vukovic@selen.hr
Description
Opće informacije
X-eye 5100F je visokoučinkoviti rendgenski inspekcijski sustav za nerazornu analizu i dijagnostiku kvarova.
Mikrofokusna lampa od 100 kV i ravni detektor visoke rezolucije na X-eye 5100F jamče visokokvalitetne slike čak i pri velikom povećanju.
S višeosnim upravljačkim sustavom, X-eye 5100F može lako pregledavati objekte pri bilo kojem povećanju. Funkcija automatskog učenja čini ga idealnim kao poluautomatski sustav kontrole kvalitete.
X-eye 5100F opremljen je korisnički prilagođenim softverom koji uključuje alate za mjerenje i komentiranje.
Mikrofokusna rendgenska lampa ugrađena u uređaj snage 100 kV i ravni detektor visoke rezolucije jamče najvišu kvalitetu slike.
Jednostavno rukovanje i održavanje uređaja bez problema vrlo su jednostavni za korištenje. Uređaj također nudi mogućnost proširenja dodatnim funkcijama ovisno o potrebama i budžetu kupca
Dimenzije: 1270x1000x1450 mm
Napajanje: AC 220V/60Hz (jednofazno)
Vanjsko zračenje: <1usv/H
Analiza u stvarnom vremenu
Funkcija pohranjivanja parametara i izbora načina rada – Upravljanje pravima pristupa
Automatska funkcija histograma
Softver za filtriranje i ispravljanje izobličenja slike
Rentgenska lampa
– Napon: maks. 100kV
– Maks. 200uA
– Žarišna točka: 5um
– Vrsta lampe: zatvorena, mikrofokusna
Rentgensko snimanje
– Detektor Rentgenskih zraka: ravni CMOS
– Zumiranje: maks. 130X
Manipulator (Robotizirani stol)
– 4 osi (X, Y, Z, T?)
– Upravljanje s radne površine (‘jog-stick’) ili mišem
– Veličina stola: 340 mm x 460 mm
– (Raspon X osi: 420 mm, Y os: 300 mm, odstupanje T: ±45°)
Radna stanica i softver
– Intel® Xeon CPU E3 – 1225 v3, @3.20GHz 8G RAM, HDD 500GB x 2
– 24″ LCD monitor
– Operativni sustav: Microsoft® Windows 7®
– X-EYE operativni softver
– Mjerni softver za automatsko određivanje razine ‘pražnjenja’
PREDNOSTI
Jednostavan rad i mnoge korisne funkcije
Fleksibilan softver za višeserijsku SMT i elektroničku proizvodnju komponenti
Nerazorno ispitivanje SMT poluvodiča i elektroničkih komponenti
Mogućnost automatizacije kontrole kvalitete
Visoka kvaliteta slike čak i pri velikom povećanju
Jednostavni mjerni alati i komentari
Additional information
Proizvođač |
---|